2182A/6221超低电阻测量系统

概述：

2182A/622X 组合是电阻测量、脉冲式 I-V 测量和微分电导测量的理想工具，比其他解决方案具有更显著的优势。2182A/622X 组合也非常适合许多纳米技术应用，因为它测量电阻时可以不消耗被测器件 (DUT) 的太多功率，否则可能会导致结果无效，甚至损坏 DUT。

特点：

·测量电阻范围为 10nΩ 至 100MΩ，测量范围非常广，专门用于超低电阻测 

  量，以检定高导电性材料、纳米材料和超导材料。

·同步的电流脉冲源，测量时间短至 50μs    限制元器件（如纳米器件和纳米材

  料）中的功耗，如果以非常低的功率电平进行测试，这些元器件很容易损坏。

·增量模式电流反向、电阻测量技术

·微分电导测量，比其他电导测量技术的速度快十倍，噪声更小

·纳伏表和电流源接口无缝配合，进行微分电导和电阻测量时，将这两台仪器作

 为一台单独的仪器来运行。

·增量、微分电导和脉冲模式产生最小的电流瞬变，可以检定可易被电流尖峰损

  坏的设备。

技术指标：

6221/2182A

电压：1nV-100V

电阻：10nΩ - 100MΩ

源：直流：±10fA – 100mA

    交流：4pAp-p – 200mAp-p

PC 接口：RS-232、GPIB、LAN